| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Anordnung zur Messung von elektrischen Parametern in einer Hochfrequenz-Klasse-D- Verstärkeranordnung bei Frequenzen von > 3 MHz, wobei die Verstärkeranordnung mit einer aus zwei in Serie geschalteten schaltenden Elementen (1, 2) gebildeten Halbbrücke (HB) mit zwei Versorgungsanschlüssen (3, 4) und einem zwischen den schaltenden Elementen liegenden Ausgangsanschluss (M) besteht und zur Steuerung der schaltenden Elemente (1, 2) eine Treiberanordnung (41) vorgesehen ist. Bei einer Anordnung zur Messung von elektrischen Signalen für eine Verstärkeranordnung, die bei hohen Frequenzen arbeitet und zum Einsatz in Hochfrequenzstromversorgungsanordnungen, insbesondere Plasmastromversorgungen geeignet ist, können die an mindestens einem Treiber (12) der Treiberanordnung (41) gemessenen elektrischen Parameter als Lichtsignale mittels eines Lichtübertragungssystems (22, 25, 29, 3,1 32, 33, 34) an eine Steuerung (36) der Verstärkeranordnung übertragbar sein.</p> |
