| 发明名称 | 不受通过线及倾斜影响的传感器 | ||
| 摘要 | 本发明披露了一种用于连续检测倾斜的试样表面的表面特性的装置。该示范性系统可包括传送试样表面(206、406)的传送装置、用以从试样表面反射光束的光源(202、402)和具有用于连续光检测的光检测表面的光检测器(208、408)。可用透镜接收从试样表面反射的光束并聚焦到光检测器的光检测表面上。透镜前光束的面积可以不等于透镜接收表面的面积。基准分析仪可用来基于接收到的反射光与已知试样表面的已知反射光值的比较来确定光学表面质量。 | ||
| 申请公布号 | CN101356419A | 申请公布日期 | 2009.01.28 |
| 申请号 | CN200680050614.4 | 申请日期 | 2006.11.03 |
| 申请人 | 霍尼韦尔国际公司 | 发明人 | R·库塞拉 |
| 分类号 | G01B11/30(2006.01);G01N21/57(2006.01) | 主分类号 | G01B11/30(2006.01) |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 柯广华;王忠忠 |
| 主权项 | 1.一种检测倾斜的试样表面的表面特性的装置，包括：用于移动试样表面(206、406)的传送装置；用于从试样表面反射光束的光源(202、402)；用于连续光检测的具有光检测表面(210、410)的光检测器(208、408)；用于接收试样表面反射的光束并将光束聚焦到所述光检测器的光检测表面上的透镜，其中所述透镜前的光束面积不等于所述透镜接收表面的面积；将所接收到的反射光与已知试样表面的已知反射光值作比较来确定光学表面质量的基准分析仪。 | ||
| 地址 | 美国新泽西州 | ||