发明名称 | 非接触工作的位置测量系统 | ||
摘要 | 本发明涉及非接触位移测量系统,该系统包括可用交流电流来供电的测量线圈(1),所述测量线圈(1)具有至少两个电压抽头(7)。该系统还包括分配给传感器(2)的导电和/或导磁的测量物体(4)以及评定电路(3)。传感器(2)和测量物体(4)在测量线圈(1)的纵向方向可彼此相对移位。本发明的特征在于,测量物体(4)具有至少一个影响两个电压抽头(7)之间的测量线圈(1)的阻抗的标记(8),使得评定电路(3)可产生与待测物体(4)相对于电压抽头(7)的位置相关的输出信号(9)。 | ||
申请公布号 | CN101341377A | 申请公布日期 | 2009.01.07 |
申请号 | CN200480033985.2 | 申请日期 | 2004.10.28 |
申请人 | 微-埃普西龙测量技术有限两合公司 | 发明人 | F·蒙德尼科夫;M·瑟兰;E·休伯 |
分类号 | G01D5/20(2006.01) | 主分类号 | G01D5/20(2006.01) |
代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 张政权 |
主权项 | 1.与传感器(2)不接触而工作的位置测量系统,包括可用交流电流来供给电流的测量线圈(1),其中测量线圈(1)包括至少两个电压抽头(7),带有分配给传感器(2)的导电和/或导磁的待测物体(4),并带有评定电路(3),其中传感器(2)和待测物体(4)在测量线圈(1)的纵向方向可彼此相对移位,其特征在于,待测物体(4)包括至少一个影响两个电压抽头(7)之间的测量线圈(1)的阻抗的标记(8),使得评定电路(3)可提供与待测物体(4)相对于电压抽头(7)的位置相关的输出信号(9)。 | ||
地址 | 德国奥滕伯格 |