发明名称 提高双色双光子荧光成像层析深度的装置
摘要 一种提高双色双光子荧光成像层析深度的装置,采用外光束包含内光束且同轴的双色光通过同一个聚焦物镜(3)聚焦到样品(4)中激发样品荧光的方法,利用两种不同频率的飞秒脉冲激光作为激发光源,一束横截面为环形,一束横截面为圆形,两者同轴互补,这样两束光只在焦点区域重合,通过延时线调整两束光在焦点处等光程激发双光子荧光信号,从而有效消除焦点之外的背景信号,本实用新型装置可有效地提高三维成像的层析深度,消除背景荧光,提高信噪比,而且操作方便。
申请公布号 CN201167945Y 申请公布日期 2008.12.24
申请号 CN200820057181.1 申请日期 2008.04.11
申请人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明人 乔玲玲;王琛;毛峥乐;程亚;徐至展
分类号 A61B5/00(2006.01) 主分类号 A61B5/00(2006.01)
代理机构 上海新天专利代理有限公司 代理人 张泽纯
主权项 1、一种提高双色双光子荧光成像层析深度的装置,其特征在于该装置包括照明部分、探测收集部分和扫描部分:照明部分包括:第一光源(1),波长为λ1,沿该第一光源(1)输出光束方向依次是半波片(5)、第一缩束系统(6)、延时线(7)和第一双色镜(9),该第一双色镜(9)与所述的第一光源(1)的光束成45°放置;第二光源(2),波长为λ2,沿该第二光源(2)输出光束方向依次是第一缩束系统(6’)、滤波光瞳(8)和第二双色镜(10),所述的第二光源(2)的光束经所述的滤波光瞳(8)后成为一圆环形光束,所述的第二双色镜(10)与所述的圆环形光束成45°放置;所述的第一双色镜(9)和所述的第二双色镜(10)相互平行,经所述的第一双色镜(9)反射的半径为r1圆形光束,通过所述的第二双色镜(10)时,并与由所述的第二双色镜(10)反射的内径为r1,外径为r2的圆环形光束同轴,形成圆形光束在内,圆环形光束在外,且同轴的双色光,该同轴的双色光经聚焦物镜(3)聚焦后照射样品(4);探测收集部分由收集透镜(12)、光电倍增管(13)、光子计数器(14)和计算机(15)组成,所述的收集透镜(12)置于所述的第一双色镜(9)的透射光方向,光电倍增管(13)放置在收集透镜(12)的焦平面收集荧光信号由光子计数器(14)获得光子数信号后输入计算机(15);扫描部分包括置放样品(4)的三维平移台(11),所述的计算机(15)驱动并控制所述的三维平移台(11)的移动,以实现对样品(4)的不同位置的扫描探测。
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