发明名称 |
一种用于光刻设备的对准系统及对准方法 |
摘要 |
本发明公开了一种用于光刻设备的对准系统及对准方法,采用了参考标记中间分支为条形光栅和与条形光栅周期相同的菱形或其他形状的阵列组合,形成新形式的参考标记,可以实现两个方向的对准信号扫描,使对准信号信噪比和强度与现有技术中相比得到提高,能量利用率得到提高,得到的对准扫描信号没有出现明显的拐点,有利于后期信号探测和AGC增益等部分的处理,在一定程度上有效的解决了现有技术中出现的问题,提高了对准精度。 |
申请公布号 |
CN101329514A |
申请公布日期 |
2008.12.24 |
申请号 |
CN200810041152.0 |
申请日期 |
2008.07.29 |
申请人 |
上海微电子装备有限公司;上海微高精密机械工程有限公司 |
发明人 |
杜聚有;徐荣伟;宋海军;韦学志;李运锋;戈亚萍 |
分类号 |
G03F7/20(2006.01);G03F9/00(2006.01);G02B27/00(2006.01) |
主分类号 |
G03F7/20(2006.01) |
代理机构 |
上海思微知识产权代理事务所 |
代理人 |
屈蘅;李时云 |
主权项 |
1、一种用于光刻设备的对准系统,其特征在于,所述对准系统包括:对准辐射源模块;照明模块;对准光学模块;和信号探测模块;所述对准辐射源模块提供用于对准系统的辐射源;所述照明模块传输对准所述辐射源模块的照明光束,准直照明硅片或基准板上的三周期对准标记;所述对准光学模块采集对准标记相应的衍射级次光束并相干成像在参考标记位置;所述信号探测模块探测和处理经过参考标记调制的对准光强信号,得到对准标记中心位置信息。 |
地址 |
201203上海市张江高科技园区张东路1525号 |