发明名称 存储器内建自修复系统及自修复方法
摘要 本发明提供一种存储器内建自修复系统,包括内建自测试电路、内建自诊断电路、内建自修复电路和冗余行/列;其特征在于,所述内建自修复电路包括字修复电路,所述字修复电路含有冗余内容可寻址存储器,所述冗余内容可寻址存储器专用于修复主存储器的单元故障;所述冗余行/列专用于修复主存储器的译码故障。本发明还提供了相应的内建自修复方法。本发明的优势包括:细化了冗余资源的粒度,提高了存储器冗余资源的利用率;通过避免访问存在缺陷的故障单元,提高存储器修复后的可靠性;并且故障诊断和冗余分配算法简单易实现;充分利用冗余资源,具有更好的修复效果。
申请公布号 CN101329918A 申请公布日期 2008.12.24
申请号 CN200810117443.3 申请日期 2008.07.30
申请人 中国科学院计算技术研究所 发明人 谢远江;王达;胡瑜;李晓维
分类号 G11C29/44(2006.01) 主分类号 G11C29/44(2006.01)
代理机构 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 代理人 王勇
主权项 1.一种存储器内建自修复系统,包括内建自修复电路和冗余行/列;所述内建自修复电路包括字修复电路,所述字修复电路含有冗余内容可寻址存储器,所述冗余内容可寻址存储器专用于修复主存储器的单元故障;所述冗余行/列专用于修复主存储器的译码故障。
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