发明名称 | 存储器内建自修复系统及自修复方法 | ||
摘要 | 本发明提供一种存储器内建自修复系统,包括内建自测试电路、内建自诊断电路、内建自修复电路和冗余行/列;其特征在于,所述内建自修复电路包括字修复电路,所述字修复电路含有冗余内容可寻址存储器,所述冗余内容可寻址存储器专用于修复主存储器的单元故障;所述冗余行/列专用于修复主存储器的译码故障。本发明还提供了相应的内建自修复方法。本发明的优势包括:细化了冗余资源的粒度,提高了存储器冗余资源的利用率;通过避免访问存在缺陷的故障单元,提高存储器修复后的可靠性;并且故障诊断和冗余分配算法简单易实现;充分利用冗余资源,具有更好的修复效果。 | ||
申请公布号 | CN101329918A | 申请公布日期 | 2008.12.24 |
申请号 | CN200810117443.3 | 申请日期 | 2008.07.30 |
申请人 | 中国科学院计算技术研究所 | 发明人 | 谢远江;王达;胡瑜;李晓维 |
分类号 | G11C29/44(2006.01) | 主分类号 | G11C29/44(2006.01) |
代理机构 | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 | 代理人 | 王勇 |
主权项 | 1.一种存储器内建自修复系统,包括内建自修复电路和冗余行/列;所述内建自修复电路包括字修复电路,所述字修复电路含有冗余内容可寻址存储器,所述冗余内容可寻址存储器专用于修复主存储器的单元故障;所述冗余行/列专用于修复主存储器的译码故障。 | ||
地址 | 100190北京市海淀区中关村科学院南路6号 |