发明名称 |
一种测量数字存储示波器存储深度的方法 |
摘要 |
本发明公开了一种测量数字存储示波器存储深度的方法,包括步骤:a.将被测数字存储示波器置于实时采样状态下最高采样率所对应的时基档位,触发方式设置为单次触发;b.输入一测试信号给被测数字存储示波器,单次触发采集结束后,根据屏幕上显示的时基和所有波形所占格数,依据公式:存储深度=时基×波形所占格数×最高采样率,得到被测数字存储示波器的存储深度。本发明通过实时采样状态下最高采样率所对应的时基档位设置以及单次触发方式的设置,获得一段连续的波形记录,根据波形记录的时间长度、最高采样率得到存储深度,这样,用户就可以根据获取的数字存储示波器存储深度这一重要的技术指标,选择合适的数字存储示波器用于信号的测量。 |
申请公布号 |
CN101261300A |
申请公布日期 |
2008.09.10 |
申请号 |
CN200810044247.8 |
申请日期 |
2008.04.18 |
申请人 |
电子科技大学 |
发明人 |
王厚军;田书林;叶芃;隋良杰;滕志超 |
分类号 |
G01R31/00(2006.01);G01R35/00(2006.01);G01R13/02(2006.01) |
主分类号 |
G01R31/00(2006.01) |
代理机构 |
北京市路盛律师事务所 |
代理人 |
温利平 |
主权项 |
1、一种测量数字存储示波器存储深度的方法,其特征在于,包括以下步骤:a、将被测数字存储示波器置于实时采样状态下最高采样率所对应的时基档位,触发方式设置为单次触发;b、输入一测试信号给被测数字存储示波器,单次触发采集结束后,根据屏幕上显示的时基和所有波形所占格数,依据公式:存储深度=时基×波形所占格数×最高采样率得到被测数字存储示波器的存储深度。 |
地址 |
611731四川省成都市高新西区西源大道2006号 |