发明名称 DISPOSITIF ET PROCEDE DE MESURE DE LA TEMPERATURE DE PAROI D'UNE EBAUCHE DE RECIPIENT
摘要 <p>Procédé de mesure de la température de paroi d'une ébauche (3) de récipient, comprenant les opérations consistant à : - Introduire dans l'ébauche (3) en mouvement, à l'issue d'une opération de chauffe de l'ébauche (3) au sein d'un four (4), une sonde (20) de température ; - Maintenir la sonde (20) dans l'ébauche (3) en mouvement pendant un temps prédéterminé ; - Effectuer, au moyen de la sonde (20) maintenue dans l'ébauche (3), une mesure de température sans contact sur une paroi (12) interne de l'ébauche (3) ; - Mémoriser la température ou le profil de température ainsi mesurée.</p>
申请公布号 FR2935924(A1) 申请公布日期 2010.03.19
申请号 FR20080005139 申请日期 2008.09.18
申请人 SIDEL PARTICIPATIONS 发明人 CETINEL ERTAN;DEAU THIERRY;FEUILLOLEY GUY
分类号 B29C49/78;G01J5/00 主分类号 B29C49/78
代理机构 代理人
主权项
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