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经营范围
发明名称
Test method for semiconductor memory circuit
摘要
申请公布号
EP1890298(B1)
申请公布日期
2009.10.07
申请号
EP20070119925
申请日期
2002.04.22
申请人
FUJITSU MICROELECTRONICS LIMITED
发明人
YAMAZAKI, MASAFUMI;SUZUKI, TAKAAKI;NAKAMURA, TOSHIKAZU;ETO, SATOSHI;MIYO, TOSHIYA;SATO, AYAKO;YONEDA, TAKAYUKI;KAWAMURA, NORIKO
分类号
G11C29/36;G11C29/00;G11C29/48
主分类号
G11C29/36
代理机构
代理人
主权项
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