| 发明名称 | 后生修饰的鉴定和监测方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供了用以微阵列为基础的技术鉴定和监测后生修饰如印记基因的新方法。具体来说，本发明通过重叠的封闭和开放染色质标记的存在检测印记基因。本发明也公开了在全基因组规模检测印记缺失的方法，其为各种医学症状的指示。本发明还公开了鉴定基因印记及其缺失的诊断检测和染色质结构标记。 | ||
| 申请公布号 | CN101553576A | 申请公布日期 | 2009.10.07 |
| 申请号 | CN200680046596.2 | 申请日期 | 2006.12.13 |
| 申请人 | 罗氏宁博根有限公司 | 发明人 | R·D·格林;A·P·范伯格;H·T·比约恩森 |
| 分类号 | C12Q1/68(2006.01)I | 主分类号 | C12Q1/68(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 范 征 |
| 主权项 | 1.一种鉴定至少一个印记基因的方法，所述方法包括以下步骤：(a)分离对象的生物样品；(b)分析对象基因组的染色质结构，建立对象染色质结构图；和(c)在至少有一个印记基因的图上鉴定基因组区域，该基因的特征是存在至少一组重叠的开放和封闭染色质标记。 | ||
| 地址 | 美国特拉华州 | ||