用于测试存储器的方法与装置

摘要

本发明提供一种测试存储器的方法，所述方法包括起始对计算机可读存储器的测试。所述计算机可读存储器提供与所述测试相关联的输出数据。另外，所述方法包括选择接收来自第一寄存器或第二寄存器的所述输出数据。在特定实施例中，所述方法可包括通过使用控制线来选择接收来自所述第一寄存器或所述第二寄存器的所述输出数据。在另一特定实施例中，所述方法可包括通过使用控制线来选择接收来自所述第一寄存器或所述第二寄存器的RAM输入数据。所述控制线由硬件或软件在逐循环基础上动态地配置。在特定实施例中，所述测试为内装自测试(BIST)。

主权项

1.一种装置，其包含：计算机可读存储器，其具有第一输入及第一输出；第一寄存器，其用于存储数据，所述第一寄存器具有第二输入及第二输出，所述第二输出耦合到所述计算机可读存储器的所述第一输入；第二寄存器，其用于存储数据，所述第二寄存器具有第三输入及第三输出，所述第三输入耦合到所述计算机可读存储器的所述第一输出；以及逻辑，其响应于所述第一寄存器的所述第二输出及所述第二寄存器的所述第三输出，以在对所述第一寄存器的所述第二输出与所述第二寄存器的所述第三输出的选择之间动态地切换。