发明名称 用于X荧光光谱仪的光斑定位调整方法及装置
摘要 一种用于X荧光光谱仪的光斑定位调整方法及装置,其中定位调整方法包括:提供狭缝板,设置于X荧光光谱仪样品台上,且覆盖照射区;狭缝板上设有位于照射区内,且互相垂直呈“L”字形的两条狭缝,以两条狭缝中心线分别为坐标轴建立直角坐标系,两轴交点为原点;设定光斑初始化位置的坐标;沿平行于任意一坐标轴的方向移动所述样品台,测出光斑起始位置在该轴的坐标,并回复至起始位置;沿平行于另一坐标轴的方向移动所述样品台,测出光斑起始位置在该轴的坐标,并回复至起始位置;根据上述起始位置以及初始化位置的坐标,移动样品台将光斑定位于初始化位置。本发明具有装置结构简单,易于改装至光谱仪,适用范围广泛,定位调整迅速精确的优点。
申请公布号 CN101551347A 申请公布日期 2009.10.07
申请号 CN200910129548.5 申请日期 2009.03.26
申请人 江苏天瑞仪器股份有限公司 发明人 刘召贵;应刚;李胜辉;李玉花
分类号 G01N23/223(2006.01)I 主分类号 G01N23/223(2006.01)I
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人 李 丽
主权项 1.一种用于X荧光光谱仪的光斑定位调整方法,其特征在于,包括:提供狭缝板,设置于X荧光光谱仪样品台上,且覆盖照射区;所述狭缝板上设有位于照射区内,且互相垂直呈“L”字形的两条狭缝,并以两条狭缝的中心线分别为x轴、y轴建立直角坐标系,两轴的交点为原点;设定光斑初始化位置的坐标;沿平行于任意一坐标轴的方向移动所述样品台,测出光斑起始位置在该轴的坐标,并回复至起始位置;沿平行于另一坐标轴的方向移动所述样品台,测出光斑起始位置在该轴的坐标,并回复至起始位置;根据上述起始位置以及初始化位置的坐标,移动样品台将光斑定位于初始化位置。
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