发明名称 |
可录式光盘刻录品质的动态检测方法 |
摘要 |
本发明一种可录式光盘刻录品质的动态检测方法,包括下列步骤:在一可录式光盘的一数据区中设定一检测位置;利用一最佳刻录功率在该数据区进行一数据刻录动作;当该可录式光盘该数据区上的一刻录位置大于或等于该检测位置时,暂停该数据刻录动作;读取先前记录在该可录式光盘轨道上的一刻录数据并进行一最佳化功率校正动作后更新该最佳刻录功率并计算出一抖动值;根据该抖动值更新该检测位置;以及,利用更新后的该最佳刻录功率再次在该数据区启动该数据刻录动作,直到该刻录位置大于或等于更新后的该检测位置。 |
申请公布号 |
CN100547659C |
申请公布日期 |
2009.10.07 |
申请号 |
CN200710079234.X |
申请日期 |
2007.02.13 |
申请人 |
建兴电子科技股份有限公司 |
发明人 |
范纲铭;翁势凯 |
分类号 |
G11B7/0045(2006.01)I;G11B7/007(2006.01)I |
主分类号 |
G11B7/0045(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
周国城 |
主权项 |
1.一种可录式光盘刻录品质的动态检测方法,包括下列步骤:在一可录式光盘的一数据区中设定一检测位置;利用一最佳刻录功率在该数据区进行一数据刻录动作;当该可录式光盘该数据区上的刻录位置大于或等于该检测位置时,暂停该数据刻录动作;读取先前记录在该可录式光盘轨道上的一刻录数据并进行一最佳化功率校正动作后更新该最佳刻录功率并计算出一抖动值;当该抖动值远大一规范值时,降低刻录速度;根据该抖动值更新该检测位置,其中当该抖动值小于该规范值时,更新的该检测位置被设定为大于一基本距离,当该抖动值等于或大于该规范值时,更新的该检测位置被设定为小于该基本距离;以及利用更新后的该最佳刻录功率再次在该数据区启动该数据刻录动作,直到该刻录位置大于或等于更新后的该检测位置。 |
地址 |
台湾省台北市 |