发明名称 |
液晶显示器测试线路以及测试方法 |
摘要 |
本发明揭露一种液晶显示器测试线路以及测试方法,液晶显示器测试线路包括一基板、其上具有多个像素结构、多条数据线以及p个短路杆,其中,每一像素结构具有n个子像素,并对应连接于这些多条数据线,而p个短路杆则分别连结至第(p×m)+1、(p×m)+2、(p×m)+3...、(p×m)+p条数据线,当n为奇数时,p=2×n,当n为偶数时,p=n,而m则为零或正整数。此外,该液晶显示器测试方法,是利用前述的液晶显示器测试线路,将该p个短路杆以n为基数进行分组,以及分别输入测试信号至各组短路杆以进行测试;亦可以将p个短路杆依排列的奇偶顺序分为2组,分别输入测试信号至各组短路杆以进行测试,如此可有效地提升液晶显示器阵列段及晶胞段的测试效率。 |
申请公布号 |
CN100547471C |
申请公布日期 |
2009.10.07 |
申请号 |
CN200510082050.X |
申请日期 |
2005.07.05 |
申请人 |
友达光电股份有限公司 |
发明人 |
赖明升 |
分类号 |
G02F1/136(2006.01)I;G02F1/1333(2006.01)I |
主分类号 |
G02F1/136(2006.01)I |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 |
代理人 |
吕晓章;马 莹 |
主权项 |
1.一种液晶显示器测试线路,其中,该线路包含:一基板;多个像素结构为形成于该基板上,且每一像素结构具有n个子像素;多条数据线,形成于该基板上,并对应连接于这些子像素;以及p个短路杆为形成于该基板上,且该p个短路杆为分别连结至第(p×m)+1、(p×m)+2、(p×m)+3...、(p×m)+p条数据线,其中,当n为偶数时,p=n,而m为零或正整数。 |
地址 |
台湾省新竹市 |