发明名称 批次处理原子层沉积反应器的处理制程
摘要 本发明的实施例提供处理制程,以在气相沉积腔室中的制程期间降低基板的污染。处理制程可在例如原子层沉积(ALD)制程的气相沉积制程之前、期间或之后进行。在ALD制程的一例子中,含有中间处理步骤及预定循环数目的ALD循环的制程循环是重复进行,直至沉积材料具有所需厚度。腔室及基板在处理制程期间可暴露于惰性气体、氧化气体、氮化气体、还原气体或其等离子。在一些例子中,处理气体可含有臭氧、水、氨、氮、氩或氢。在一例子中,在批次制程腔室中沉积氧化铪材料的制程包括预处理步骤、ALD制程的中间处理步骤及后处理步骤。
申请公布号 CN101553597A 申请公布日期 2009.10.07
申请号 CN200680034362.6 申请日期 2006.09.18
申请人 应用材料股份有限公司 发明人 B·A·麦克道格尔
分类号 C23C16/00(2006.01)I;H05H1/24(2006.01)I 主分类号 C23C16/00(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 代理人 陆 嘉
主权项 1.一种在制程腔室中的基板上形成材料的方法,其至少包含:将制程腔室暴露于预处理制程;将该制程腔室中的至少一基板暴露于原子层沉积(ALD)制程,该制程包含:在一原子层沉积循环期间,将该至少一基板循序暴露于至少二化学前驱物;以预定的循环数而重复该原子层沉积循环;以及在每一该预定的循环数后进行处理制程;以及将该制程腔室暴露于后处理制程。
地址 美国加利福尼亚州