| 发明名称 | 一种探测器性能测试装置及测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种探测器性能测试装置及测试方法。探测器性能测试装置包括：探测器控制模块，用于接收探测器发出的事件信号，并将探测器发出的事件信号转换为数字信号；数字控制模块，用于接收所述数字信号，并将所述数字信号处理为事件信息；应用模块，用于对所述探测器控制模块进行参数设置，并根据设置的所述参数显示所述事件信息。 | ||
| 申请公布号 | CN101706581A | 申请公布日期 | 2010.05.12 |
| 申请号 | CN200910235218.4 | 申请日期 | 2009.09.28 |
| 申请人 | 北京亿仁赛博医疗设备有限公司 | 发明人 | 刘小平;李建伟;李景涛 |
| 分类号 | G01T1/16(2006.01)I | 主分类号 | G01T1/16(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人 | 许静 |
| 主权项 | 一种探测器性能测试装置，其特征在于，包括：探测器控制模块，用于接收探测器发出的事件信号，并将所述探测器发出的事件信号转换为数字信号；数字控制模块，用于接收所述数字信号，并将所述数字信号处理为事件信息；应用模块，用于对所述探测器控制模块进行参数设置，并根据设置的所述参数显示所述事件信息。 | ||
| 地址 | 100176 北京市大兴区经济技术开发区永昌北路11号 | ||