发明名称 用于光学检测系统的电致发光照明源
摘要 本发明提供了采用电致发光(EL)照明源的光学检测系统。和用于一些常规光学检测系统的照明源不同,EL器件较均匀并且是漫射的,所以可以向测试试样提供均匀的照明。另外,EL器件的发射光强度可以通过简单改变电压或者所施加电流的频率而很容易地控制。EL器件的相对挠性也可以使其能够很容易结合到用于检测测试试样中分析物是否存在的、基于色谱分析的测定器件中。
申请公布号 CN1946999B 申请公布日期 2010.05.12
申请号 CN200580013053.6 申请日期 2005.04.22
申请人 金伯利-克拉克环球有限公司 发明人 D·S·科亨
分类号 G01N21/01(2006.01)I;G01N1/28(2006.01)I;G01N33/52(2006.01)I;G01N21/76(2006.01)I;G01N21/66(2006.01)I 主分类号 G01N21/01(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 韦欣华;段晓玲
主权项 用于测试测试试样中分析物的存在性或量的光学检测系统,所述系统包括:测定器件,包括检测探针和与检测探针连通的色谱分析介质,所述检测探针能够产生与所述分析物的存在性或量相关的检测信号;提供电磁辐射的电致发光照明源,所述电磁辐射能够导致所述检测探针产生所述检测信号;和检测器,能够寄存所述检测探针产生的所述检测信号。
地址 美国威斯康星州