发明名称 Verfahren zum Verringern von Ungleichmäßigkeiten während des chemisch-mechanischen Polierens von Mikrostrukturbauelementen durch Verwenden von CMP-Belägen in einem glasierten Zustand
摘要 In komplexen CMP-Rezepten wird der Materialabtrag auf der Grundlage eines chemisch reaktiven Schleifmaterials und einer geringen Andruckkraft erreicht, wobei die Oberflächentopografie einer schließlich erzielten Materialschicht verbessert wird, indem zumindest in einer abschließenden Phase ein glasierter Zustand des Polierkissens angewendet wird.
申请公布号 DE102008054074(A1) 申请公布日期 2010.05.12
申请号 DE200810054074 申请日期 2008.10.31
申请人 ADVANCED MICRO DEVICES INC.;AMD FAB 36 LIMITED LIABILITY COMPANY & CO. KG 发明人 MARXSEN, GERD;HEINRICH, JENS;SCHLOTT, JANA
分类号 H01L21/304 主分类号 H01L21/304
代理机构 代理人
主权项
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