发明名称 |
Verfahren zum Verringern von Ungleichmäßigkeiten während des chemisch-mechanischen Polierens von Mikrostrukturbauelementen durch Verwenden von CMP-Belägen in einem glasierten Zustand |
摘要 |
In komplexen CMP-Rezepten wird der Materialabtrag auf der Grundlage eines chemisch reaktiven Schleifmaterials und einer geringen Andruckkraft erreicht, wobei die Oberflächentopografie einer schließlich erzielten Materialschicht verbessert wird, indem zumindest in einer abschließenden Phase ein glasierter Zustand des Polierkissens angewendet wird.
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申请公布号 |
DE102008054074(A1) |
申请公布日期 |
2010.05.12 |
申请号 |
DE200810054074 |
申请日期 |
2008.10.31 |
申请人 |
ADVANCED MICRO DEVICES INC.;AMD FAB 36 LIMITED LIABILITY COMPANY & CO. KG |
发明人 |
MARXSEN, GERD;HEINRICH, JENS;SCHLOTT, JANA |
分类号 |
H01L21/304 |
主分类号 |
H01L21/304 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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