发明名称 |
绝缘子绝缘性能的检测方法及装置 |
摘要 |
本发明公开了一种绝缘子绝缘性能的检测方法及装置,检测方法步骤如下:初始化被测绝缘子的零值临界电阻R1和低值临界电阻R2;对断电状态下的被测绝缘子施加直流高电压;采集流经被测绝缘子的泄漏电流;根据上述步骤施加的直流高电压和采集得到的泄漏电流,结合伏安法计算出被测绝缘子的绝缘电阻R;将计算出的绝缘电阻R和零值临界电阻R1、低值临界电阻R2进行比较,然后输出对被测绝缘子的性能的比较结果,检测装置包括高压电源单元(1)、电流采集单元(2)和处理单元(3)。本发明具有适用范围广、适用现场操作、测量智能、检测快捷、操作方便、测量精度高、输出结果形式丰富、携带方便的优点。 |
申请公布号 |
CN101706531A |
申请公布日期 |
2010.05.12 |
申请号 |
CN200910044731.5 |
申请日期 |
2009.11.10 |
申请人 |
李景禄 |
发明人 |
李景禄;彭利强;刘源;仇炜 |
分类号 |
G01R27/08(2006.01)I |
主分类号 |
G01R27/08(2006.01)I |
代理机构 |
湖南兆弘专利事务所 43008 |
代理人 |
赵洪 |
主权项 |
一种绝缘子绝缘性能的检测方法,其特征在于其实施步骤如下:1)初始化被测绝缘子的零值临界电阻R1和低值临界电阻R2;2)对停电状态下的被测绝缘子施加直流高电压;3)采集流经被测绝缘子的泄漏电流;4)根据步骤2)施加的直流高电压和步骤3)采集得到的泄漏电流,结合伏安法计算出被测绝缘子的绝缘电阻R;5)将步骤4)计算出的绝缘电阻R和零值临界电阻R1、低值临界电阻R2进行比较,然后输出对被测绝缘子的性能的比较结果。 |
地址 |
410076 湖南省长沙市天心区赤岭路45号长沙理工大学电气与信息工程学院 |