发明名称 | 重复利用不合格的多晶元封装 | ||
摘要 | 本发明指导了通过隔离封装的有效部分并将不合格的多晶元存储器封装用作较小的存储器封装来重复利用它。 | ||
申请公布号 | CN101553919A | 申请公布日期 | 2009.10.07 |
申请号 | CN200780002176.9 | 申请日期 | 2007.01.08 |
申请人 | 晟碟以色列有限公司 | 发明人 | A·梅厄 |
分类号 | H01L23/34(2006.01)I | 主分类号 | H01L23/34(2006.01)I |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 赵 冰 |
主权项 | 1.一种多晶元存储器封装,所述封装包括:(a)多个存储器晶元;和(b)用于所述多个存储器晶元中的每个晶元的来自所述封装的至少一个外部连接,所述至少一个外部连接中用于专门提供电压供应线路给所述多个存储器晶元中的一个单个晶元。 | ||
地址 | 以色列卡法萨巴 |