发明名称 现场可编程逻辑门阵列中单粒子翻转的修复方法及装置
摘要 一种现场可编程逻辑门阵列中单粒子翻转的修复方法及装置,设置一个与现场可编程逻辑门阵列相连的用于实现单粒子翻转检测和修复流程的高可靠监控单元;由高可靠监控单元执行现场可编程逻辑门阵列的配置存储器回读流程,读取现场可编程逻辑门阵列的配置帧,然后由高可靠监控单元执行通过标准NVRAM接口从非易失性存储器读取的原始配置帧;高可靠监控单元将回读配置帧与原始配置帧进行字节比对,当配置帧出现比对错误时,即判断现场可编程逻辑门阵列的配置存储器发生了单粒子翻转,高可靠监控单元即执行修复流程,修复错误现场可编程逻辑门阵列配置帧。本发明具有结构原理简单、操作简便、可靠性高、稳定性好等优点。
申请公布号 CN101551763A 申请公布日期 2009.10.07
申请号 CN200910043423.0 申请日期 2009.05.15
申请人 中国人民解放军国防科学技术大学 发明人 邢克飞;陈建云;张传胜;杨建伟;钟小鹏;胡助理;周永彬;明德祥;王跃科;杨俊
分类号 G06F11/00(2006.01)I;G11C16/06(2006.01)I 主分类号 G06F11/00(2006.01)I
代理机构 湖南兆弘专利事务所 代理人 赵 洪
主权项 1、一种现场可编程逻辑门阵列中单粒子翻转的修复方法,其特征在于:首先设置一个与现场可编程逻辑门阵列相连的用于实现单粒子翻转检测和修复流程的高可靠监控单元;由高可靠监控单元执行现场可编程逻辑门阵列的配置存储器回读流程,读取现场可编程逻辑门阵列的配置帧,然后由高可靠监控单元执行通过标准NVRAM接口从非易失性存储器读取的原始配置帧;高可靠监控单元将现场可编程逻辑门阵列的回读配置帧与原始配置帧进行字节比对,当配置帧出现比对错误时,即判断现场可编程逻辑门阵列的配置存储器发生了单粒子翻转,高可靠监控单元即执行现场可编程逻辑门阵列配置存储器的修复流程,修复错误现场可编程逻辑门阵列配置帧。
地址 410073湖南省长沙市砚瓦池正街47号中国人民解放军国防科学技术大学机电工程与自动化学院