零运动接触致动

摘要

本发明提供一种用于测试小电子组件的装置，其包括测试板以用于将多个间隔的电子组件移动到测试台。滚筒经设计以按压在所述测试板和电子组件上，从而在所述测试板和电子组件正移动时施加10克到20克之间的第一力，且在所述测试板停止且所述电子组件在所述测试台中对准时施加约50克的第二力。所述施加在所述测试板和电子组件上的力由例如流体操作的致动器(例如，气动致动器)或螺线管等力施用致动器控制。

主权项

1.一种用于测试电子组件的设备，所述电子组件支撑在测试板上以用于沿穿过测试台的行进路径进行输送，所述设备的特征在于：接触滚筒，其位于测试台处，用于沿所述测试板的表面和由所述测试板输送到所述测试台以供测试的至少一个电子组件滚动；以及递增力施用致动器，其可在第一模式下操作以在所述测试板正移动时经由所述接触滚筒将第一预定力施加在所述测试板和被支撑的电子组件上，且可在第二模式下操作以在所述电子组件在所述测试台处进行测试期间静止时经由所述接触滚筒将第二预定力施加在所述电子组件上。