Protection of the test mode of an integrated circuit,申请号EP20060290205-传众专利搜索

发明名称	Protection of the test mode of an integrated circuit
摘要
申请公布号	EP1688753(B1)	申请公布日期	2009.09.23
申请号	EP20060290205	申请日期	2006.02.06
申请人	STMICROELECTRONICS SA	发明人	BANCEL, FREDERIC;HELY, DAVID
分类号	G01R31/3185	主分类号	G01R31/3185
代理机构		代理人
主权项
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