发明名称 |
高边NLDMOS结构 |
摘要 |
本发明公开了一种高边NLDMOS结构。本发明在原有高边NLDMOS的基础上,将原来在P衬底(201)与N型外延(203)之间的全区段的N型埋层(202)改为部分区段的N型埋层(202)。一般来说,N型埋层(202)的长度为P型衬底(201)全长的三分之一到三分之二。通常将N型埋层(202)的长度制作为P型衬底(201)全长的二分之一左右。本发明既阻止了器件开态时源和衬底之间发生穿通击穿,又使关态时器件的电势线在源端和漏端均匀分布,提高了器件的关态击穿电压,而且不增加外延层厚度和器件的面积、不影响器件的性能。本发明可应用于马达驱动、电源管理、平板显示器驱动等芯片的电路中。 |
申请公布号 |
CN101540339A |
申请公布日期 |
2009.09.23 |
申请号 |
CN200910302100.9 |
申请日期 |
2009.05.05 |
申请人 |
浙江大学 |
发明人 |
韩成功;韩雁;张斌;张世峰;胡佳贤 |
分类号 |
H01L29/78(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L23/52(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/78(2006.01)I |
代理机构 |
贵阳中新专利商标事务所 |
代理人 |
吴无惧;刘思宁 |
主权项 |
1.一种高边NLDMOS结构,它包括P型衬底(201)、N型外延(203),N型外延(203)上方有P阱(204)和N阱(213);其中P阱(204)形成LDMOS的沟道,N阱(213)构成器件的漏端漂移区;P阱(204)中的P+注入区(205)连接器件的背栅电极(206),N+注入区(208)连接源电极(207);N阱(213)中的N+注入区(208a)连接漏电极(212);栅电极(210)覆盖在栅氧(209)上方,并有一段延伸到场氧(211)上;其特征在于:在P型衬底(201)与N型外延(203)之间的N型埋层(202)是部分区段的,位于源端的下方。 |
地址 |
310027浙江省杭州市浙大路38号 |