发明名称 |
成像系统,成像器件分析系统,成像器件分析方法,和光束发射方法 |
摘要 |
描述了成像系统(100)、成像器件分析系统(112)、成像器件分析方法和光束发射方法。依照一个方面,成像器件分析方法包括接收含有多个波长光的初始光(124)、过滤初始光(124)的一些波长,从而形成含有不同波长光的多个光束(116)、在过滤之后,将不同波长光的光束(116)光学地传递到成像器件(114)、使用成像器件(114)接收光束(116)、并在接收之后使用光束(116)分析成像器件(114)。 |
申请公布号 |
CN100543572C |
申请公布日期 |
2009.09.23 |
申请号 |
CN200610142874.6 |
申请日期 |
2006.10.27 |
申请人 |
惠普开发有限公司 |
发明人 |
A·古普塔;M·龙;J·M·迪卡罗 |
分类号 |
G03B11/04(2006.01)I;H04N5/225(2006.01)I;H04N5/217(2006.01)I;G03B43/00(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I;G01M19/00(2006.01)I |
主分类号 |
G03B11/04(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
王小衡;陈景峻 |
主权项 |
1. 一种成像器件分析系统,包括:光源(122),其配置成发射包含多个波长光的初始光(124);滤波器组件(130),其与光源(122)光学耦合并配置成接收初始光(124),其中滤波器组件(130)包括多个光学滤波器(142),该多个光学滤波器被分别配置成从初始光(124)过滤一些波长的光并透过包含至少一个波长光的各个光束(116),其中由各个光学滤波器(142)透过的光束(116)的光的波长不同;和发射接口(133),其与滤波器组件(130)光学耦合并配置成发射光束(116)以分析成像器件(114),该成像器件配置成响应于接收到的光而俘获图像。 |
地址 |
美国德克萨斯州 |