发明名称 成像系统,成像器件分析系统,成像器件分析方法,和光束发射方法
摘要 描述了成像系统(100)、成像器件分析系统(112)、成像器件分析方法和光束发射方法。依照一个方面,成像器件分析方法包括接收含有多个波长光的初始光(124)、过滤初始光(124)的一些波长,从而形成含有不同波长光的多个光束(116)、在过滤之后,将不同波长光的光束(116)光学地传递到成像器件(114)、使用成像器件(114)接收光束(116)、并在接收之后使用光束(116)分析成像器件(114)。
申请公布号 CN100543572C 申请公布日期 2009.09.23
申请号 CN200610142874.6 申请日期 2006.10.27
申请人 惠普开发有限公司 发明人 A·古普塔;M·龙;J·M·迪卡罗
分类号 G03B11/04(2006.01)I;H04N5/225(2006.01)I;H04N5/217(2006.01)I;G03B43/00(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I;G01M19/00(2006.01)I 主分类号 G03B11/04(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 王小衡;陈景峻
主权项 1. 一种成像器件分析系统,包括:光源(122),其配置成发射包含多个波长光的初始光(124);滤波器组件(130),其与光源(122)光学耦合并配置成接收初始光(124),其中滤波器组件(130)包括多个光学滤波器(142),该多个光学滤波器被分别配置成从初始光(124)过滤一些波长的光并透过包含至少一个波长光的各个光束(116),其中由各个光学滤波器(142)透过的光束(116)的光的波长不同;和发射接口(133),其与滤波器组件(130)光学耦合并配置成发射光束(116)以分析成像器件(114),该成像器件配置成响应于接收到的光而俘获图像。
地址 美国德克萨斯州