决定半导体深杂质密度之方法及装置,申请号TW017787-传众专利搜索

发明名称	决定半导体深杂质密度之方法及装置
摘要
申请公布号	TW010026	申请公布日期	1971.12.01
申请号	TW017787	申请日期	1970.12.23
申请人	西方电气公司	发明人	COPELAND, JOHN ALEXANDER III
分类号	H01V	主分类号	H01V
代理机构		代理人	林敏生台北巿南京东路二段一二五号七楼伟成第一大楼
主权项
地址	日本国大阪府门真巿大字门真1006番地