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发明名称 SEKUNDÄRIONEN-MASSENSPEKTROSKOPIE (SIMS) MIT POLYATOMAREM PRIMÄRIONENSTRAHL, DER AUF EINE MIT CAESIUM BESCHICHTETE OBERFLÄCHE GERICHTET WIRD
摘要
申请公布号 DE502006004312(D1) 申请公布日期 2009.09.03
申请号 DE200650004312T 申请日期 2006.05.19
申请人 ION-TOF TECHNOLOGIES GMBH 发明人 NIEHUIS, EWALD;KERSTING, REINHARD;MOELLERS, RUDOLF;GREHL, THOMAS
分类号 G01N23/225 主分类号 G01N23/225
代理机构 代理人
主权项
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