发明名称 |
互补式金属氧化物半导体图像传感器及其制造方法 |
摘要 |
一种互补式金属氧化物半导体图像传感器,其包括基底、光电二极管、一个p型栅极结构与多个n型栅极结构。其中,基底具有一光感测区以及一晶体管元件区。光电二极管配置于光感测区的基底中。p型栅极结构配置于晶体管元件区的基底上。多个n型栅极结构配置于晶体管元件区的基底上。 |
申请公布号 |
CN100536112C |
申请公布日期 |
2009.09.02 |
申请号 |
CN200610143596.6 |
申请日期 |
2006.11.09 |
申请人 |
联华电子股份有限公司 |
发明人 |
施俊吉 |
分类号 |
H01L21/8238(2006.01)I;H01L27/146(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/8238(2006.01)I |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 |
代理人 |
陶凤波 |
主权项 |
1.一种互补式金属氧化物半导体图像传感器的制造方法,包括:提供基底,该基底具有光感测区以及晶体管元件区;在该晶体管元件区的该基底中形成p型阱区;在该基底上依序形成介电层以及未掺杂多晶硅层;形成第一掩模层,以覆盖住该光感测区与部分该晶体管元件区的该未掺杂多晶硅层;进行第一离子注入工艺,将n型掺杂剂注入所暴露出的该未掺杂多晶硅层中,以形成n型多晶硅层;移除该第一掩模层;形成第二掩模层,覆盖该n型多晶硅层;进行第二离子注入工艺,将p型掺杂剂注入所暴露出的该未掺杂多晶硅层中,以形成p型多晶硅层;移除该第二掩模层;定义该介电层、该n型多晶硅层与该p型多晶硅层,以于该晶体管元件区的该p型阱区上形成多个n型栅极结构与一p型栅极结构;以及于该光感测区的该基底中形成光电二极管。 |
地址 |
中国台湾新竹科学工业园区 |