| 发明名称 |
粒子统计方法及装置 |
| 摘要 |
一种粒子统计方法，包括如下步骤：获取粒子图像；至少进行一次粒子图像的缩/放处理；计算缩/放前后至少两幅粒子图像中粒子的总面积；根据所述至少两个粒子总面积以及对应的粒子图像缩/放量计算出粒子图像中粒子的数量，以判断被拍摄物质中粒子含量是否满足要求。通过上述粒子统计方法计算粒子数量时，无需识别图像中的独立的粒子，也不需要计算粒子的直径或者长宽等参数，仅利用以此图像的缩/放就能够得准确的粒子数量，使得统计速度大大提高。本发明还提供一种粒子统计装置。 |
| 申请公布号 |
CN101520401A |
申请公布日期 |
2009.09.02 |
| 申请号 |
CN200810300432.9 |
申请日期 |
2008.02.29 |
| 申请人 |
鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
发明人 |
唐佩忠 |
| 分类号 |
G01N15/10(2006.01)I;G06T7/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01N15/10(2006.01)I |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
【权利要求1】一种粒子统计方法，包括如下步骤：获取粒子图像；至少进行一次粒子图像的缩/放处理；计算缩/放前后至少两幅粒子图像中粒子的总面积；根据所述至少两个粒子总面积以及对应的粒子图像缩/放量计算出粒子图像中粒子的数量，以判断被拍摄物质中粒子含量是否满足要求。 |
| 地址 |
518109广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号 |
