发明名称 |
一种改良型高灵敏度微压力传感器芯片制作工艺 |
摘要 |
本发明提供了一种改良型高灵敏度微压力传感器芯片制作工艺。工艺简单,易加工、生产成本低,且通过该工艺加工出的传感器芯片精度高、稳定性好。为此,本发明还提供了使用该工艺的传感器芯片。特征在于:其采用正反两面抛光的N型或P型硅基作衬底,在硅基衬底的正反两面各生长一层SiO<sub>2</sub>和Si<sub>3</sub>N<sub>4</sub>组成的复合绝缘膜,在所述上层复合绝缘膜上沉积掺杂或本征厚度4μm-6μm的纳米硅层,在纳米硅层上注入N型或P型杂质后通过光刻平面工艺制作成纳米硅力敏电阻,掺浓硼或浓磷在纳米硅力敏电阻上引出内引线,蒸AL反刻引出内引线合金化,所述硅基衬底反面通过体微加工形成背大膜区和背岛,硅基衬底底部通过硅玻璃键合形成绝压腔。 |
申请公布号 |
CN101520350A |
申请公布日期 |
2009.09.02 |
申请号 |
CN200910030262.1 |
申请日期 |
2009.03.24 |
申请人 |
无锡市纳微电子有限公司 |
发明人 |
王树娟;何宇亮 |
分类号 |
G01L1/18(2006.01)I;G01L9/00(2006.01)I;B81C1/00(2006.01)I;B81B7/02(2006.01)I;B81C5/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01L1/18(2006.01)I |
代理机构 |
无锡盛阳专利商标事务所(普通合伙) |
代理人 |
顾吉云 |
主权项 |
1、一种改良型高灵敏度微压力传感器制作工艺,特征在于:其采用正反两面抛光的N型或P型硅基作衬底,在硅基衬底的正反两面各生长一层SiO2和Si3N4组成的复合绝缘膜,在所述上层复合绝缘膜上沉积掺杂或本征厚度4μm-6μm的纳米硅层,在纳米硅层上注入N型或P型杂质后通过光刻平面工艺制作成纳米硅力敏电阻,掺浓硼或浓磷在纳米硅力敏电阻上引出内引线,蒸AL反刻引出内引线合金化,所述硅基衬底反面通过体微加工形成背大膜区和背岛,硅基衬底底部通过硅玻璃键合形成绝压腔。 |
地址 |
214028江苏省无锡市新区长江路7号 |