| 发明名称 | 位置测量系统 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种位置测量系统，该位置测量系统包括：用于发射电磁波的电磁波源；用于反射所述电磁波以形成一电磁波汇聚区的镜；电磁波部件，设置在所述电磁波源与所述镜之间，并且用于改变所述电磁波的方向；接收装置，用于检测由所述镜形成的所述电磁波汇聚区；以及计算装置，用于基于由所述接收装置对所述电磁波汇聚区所检测到的信息，来测量所述电磁波源的位置。 | ||
| 申请公布号 | CN101520310A | 申请公布日期 | 2009.09.02 |
| 申请号 | CN200910129951.8 | 申请日期 | 2004.09.15 |
| 申请人 | 富士施乐株式会社 | 发明人 | 濑古保次 |
| 分类号 | G01B11/00(2006.01)I;G01S5/16(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人 | 李 辉 |
| 主权项 | 1、一种位置测量系统，包括：用于发射电磁波的电磁波源；用于反射所述电磁波以形成一电磁波汇聚区的镜；电磁波部件，设置在所述电磁波源与所述镜之间，并且用于改变所述电磁波的方向；接收装置，用于检测由所述镜形成的所述电磁波汇聚区；以及计算装置，用于基于由所述接收装置对所述电磁波汇聚区所检测到的信息，来测量所述电磁波源的位置。 | ||
| 地址 | 日本东京 | ||