发明名称 |
随机存储器失效的检测处理方法及其系统 |
摘要 |
本发明公开了一种RAM失效的检测处理方法,应用于对CPU/DSP的RAM失效的检测处理,包括:读取所述RAM中的程序内容;若所述RAM可被CPU/DSP的高层控制实体访问,则由所述高层控制实体将读取的程序内容与正确的程序内容进行比对,当两者不一致时,判断RAM失效并进行数据修复;若所述RAM不能被CPU/DSP的高层控制实体访问,则由所述CPU/DSP将读取的程序内容采用设定的校验方法进行数据校验,并与正确的校验结果进行比对,当两者不一致时,判断RAM失效并报警。采用本发明方法,可及时检测CPU/DSP RAM失效的情况,及时采取相应的处理措施,将RAM失效引起的影响降到最低。 |
申请公布号 |
CN100536031C |
申请公布日期 |
2009.09.02 |
申请号 |
CN200610001749.3 |
申请日期 |
2006.01.25 |
申请人 |
华为技术有限公司 |
发明人 |
李强 |
分类号 |
G11C29/00(2006.01)I;G06F11/28(2006.01)I |
主分类号 |
G11C29/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京同达信恒知识产权代理有限公司 |
代理人 |
郭润湘 |
主权项 |
1、一种随机存储器RAM失效的检测处理方法,应用于对中央处理器CPU/数字信号处理器DSP的RAM失效的检测处理,其特征在于,该检测处理方法包括:读取所述RAM中的程序内容;若所述RAM可被CPU/DSP的高层控制实体访问,则由所述高层控制实体将读取的程序内容与正确的程序内容进行比对,当两者不一致时,判断所述RAM失效并进行数据修复;若所述RAM不能被CPU/DSP的高层控制实体访问,则由所述CPU/DSP将读取的程序内容采用设定的校验方法进行数据校验,并与正确的校验结果进行比对,当两者不一致时,判断所述RAM失效并报警,或者,由所述CPU/DSP将读取的程序内容与预先备份在所述RAM中的正确的程序内容进行比对,当两者不一致时,判断所述RAM失效并进行数据修复。 |
地址 |
518129广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼 |