Ein nichtflüchtiger Speicher mit Unterstützung von hochparallelem Test auf Waferebene,申请号DE200460032455T-传众专利搜索

发明名称	Ein nichtflüchtiger Speicher mit Unterstützung von hochparallelem Test auf Waferebene
摘要
申请公布号	DE602004032455(D1)	申请公布日期	2011.06.09
申请号	DE200460032455T	申请日期	2004.12.15
申请人	STMICROELECTRONICS S.R.L.;HYNIX SEMICONDUCTOR INC.	发明人	LOMAZZI, GUIDO;RENNA, ILARIA;MACCARRONE, MARCO
分类号	G11C29/00	主分类号	G11C29/00
代理机构		代理人
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