发明名称 制造硅单晶的方法
摘要 目的:在通过切克劳斯基法、利用石英坩埚制造硅单晶的方法中,在不受晶体直径及熔体初始进料量变化的影响下,以高的收率制得氧浓度分布均匀的硅单晶。结构:依据坩埚转速(Ω)、坩埚温度(T)及熔融硅与坩埚内壁接触面积及熔融硅与大气接触面积的比例(β)三个参数的关系,并通过利用石英熔入熔体内的溶解能(E)、以函数1/β×Exp(-E/T)结合温度(T)及比例(β),通过预测生长中硅单晶中的氧浓度来调节硅单晶中的氧浓度,以控制转速(Ω)及温度(T)中的至少一个,使预测的氧浓度与目标浓度一致。
申请公布号 CN1932085B 申请公布日期 2011.06.08
申请号 CN200610092779.X 申请日期 2006.06.14
申请人 硅电子股份公司 发明人 岸田丰;竹林圣记;玉木辉幸
分类号 C30B15/00(2006.01)I 主分类号 C30B15/00(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人 程大军;过晓东
主权项 一种利用石英坩埚、通过切克劳斯基方法制造硅单晶的方法,其包括:根据坩埚转速(Ω)、坩埚温度(T)及熔融硅和坩埚内壁接触面积与熔融硅和大气接触面积的比例(β)三个参数的关系预测生长期间硅单晶中的氧浓度Op(Ω、T、β);其中所述氧浓度Op(Ω、T、β)通过使用下式来预测:Op(Ω、T、β)=A×F(Ω)×1/β×Exp(‑E/T)+B其中A和B是常数,F是坩埚转速(Ω)的函数,E表示石英进入硅中的溶解能,以及根据式|Op(Ω、T、β)‑Ot(β)|≤Δ来控制硅单晶中的氧浓度Op(Ω、T、β),其中Ot是所述单晶中的目标氧浓度,而Δ是在所述单晶生长部分中氧浓度的可接受变量。
地址 德国慕尼黑