发明名称 |
一种光中子-X射线违禁品检测方法及系统 |
摘要 |
本发明公开了一种光中子-X射线违禁品检测方法和系统。该系统包括:X射线发生器,其产生X射线主束,X射线主束包括第一X射线束和第二X射线束,第一X射线束被引导穿过该被检物体;光中子转换靶,该光中子转换靶布置成接收所述第二X射线束,从而产生光中子,光中子被引导进入该被检物体,并与所述被检物体反应发出特征性γ射线;X射线探测装置,该X射线探测装置布置成接收穿过该被检物体后的所述第一X射线束,以便对该被检物体进行X射线成像检测;γ射线探测装置,该γ射线探测装置布置成接收所述特征性γ射线,以便根据所述特征性γ射线对该被检物体进行中子检测;其中,该系统同时对该被检物体进行X射线成像检测和中子检测。 |
申请公布号 |
CN101329283B |
申请公布日期 |
2011.06.08 |
申请号 |
CN200810125189.1 |
申请日期 |
2008.06.19 |
申请人 |
清华大学;同方威视技术股份有限公司 |
发明人 |
康克军;胡海峰;杨袆罡;陈志强;苗齐田;程建平;李元景;刘以农;彭华;李铁柱;赵自然;刘耀红;吴万龙 |
分类号 |
G01N23/02(2006.01)I;G01N23/222(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/02(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
范晓斌;赵辛 |
主权项 |
一种光中子‑X射线违禁品检测方法,用于检测一被检物体,该方法包括:同时产生第一X射线束和光中子;利用所述第一X射线束对被检物体进行X射线成像检测;在进行所述X射线成像检测的同时,利用所述光中子、根据光中子与被检物体反应所发出的特征性γ射线对被检物体进行中子检测,其中,所述光中子是由第二X射线束轰击光中子转换靶产生,其中,所述第一和第二X射线束是从同一X射线主束中分出的,其中,用所述光中子转换靶从所述X射线主束中分出所述第一X射线束。 |
地址 |
100084 北京市海淀区清华大学 |