发明名称 一种光中子-X射线违禁品检测方法及系统
摘要 本发明公开了一种光中子-X射线违禁品检测方法和系统。该系统包括:X射线发生器,其产生X射线主束,X射线主束包括第一X射线束和第二X射线束,第一X射线束被引导穿过该被检物体;光中子转换靶,该光中子转换靶布置成接收所述第二X射线束,从而产生光中子,光中子被引导进入该被检物体,并与所述被检物体反应发出特征性γ射线;X射线探测装置,该X射线探测装置布置成接收穿过该被检物体后的所述第一X射线束,以便对该被检物体进行X射线成像检测;γ射线探测装置,该γ射线探测装置布置成接收所述特征性γ射线,以便根据所述特征性γ射线对该被检物体进行中子检测;其中,该系统同时对该被检物体进行X射线成像检测和中子检测。
申请公布号 CN101329283B 申请公布日期 2011.06.08
申请号 CN200810125189.1 申请日期 2008.06.19
申请人 清华大学;同方威视技术股份有限公司 发明人 康克军;胡海峰;杨袆罡;陈志强;苗齐田;程建平;李元景;刘以农;彭华;李铁柱;赵自然;刘耀红;吴万龙
分类号 G01N23/02(2006.01)I;G01N23/222(2006.01)I 主分类号 G01N23/02(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 范晓斌;赵辛
主权项 一种光中子‑X射线违禁品检测方法,用于检测一被检物体,该方法包括:同时产生第一X射线束和光中子;利用所述第一X射线束对被检物体进行X射线成像检测;在进行所述X射线成像检测的同时,利用所述光中子、根据光中子与被检物体反应所发出的特征性γ射线对被检物体进行中子检测,其中,所述光中子是由第二X射线束轰击光中子转换靶产生,其中,所述第一和第二X射线束是从同一X射线主束中分出的,其中,用所述光中子转换靶从所述X射线主束中分出所述第一X射线束。
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