发明名称 |
在基片上制作带图形光学滤波层的方法 |
摘要 |
在基片上制作带图形光学滤波层的方法;本发明提供一种在基片上至少制作一个光学滤层分段的方法,其中,在基片表面上制作包含抗蚀层的掩模;利用真空沉积法,在基片表面上沉积光学滤波层;和从抗蚀层上去除有光学滤波层的抗蚀层;其中沉积光学滤波层至少发生在高于150℃的温度下,最好是在高于150℃至400℃的范围内。 |
申请公布号 |
CN1721889B |
申请公布日期 |
2011.06.08 |
申请号 |
CN200510084615.8 |
申请日期 |
2005.07.15 |
申请人 |
肖特股份公司 |
发明人 |
迪特·维特博格;托马斯·库帕;录兹·佐格;安德里·米尔坦斯 |
分类号 |
G02B5/20(2006.01)I |
主分类号 |
G02B5/20(2006.01)I |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
代理人 |
蒋世迅 |
主权项 |
一种在基片上制作光学滤波层分段的方法,其中在基片(1)的表面(3)上沉积抗蚀层(5)以制作掩模(15),在高于150℃的温度利用真空沉积法在所述掩模(15)的表面上沉积光学滤波层(23),此时加热已涂敷抗蚀层(5)的表面,并且在光学滤波层(23)沉积在抗蚀层(5)上之后冷却光学滤波层(23),以便在所述光学滤波层(23)中形成裂纹,通过利用碱性溶液处理所述抗蚀层(5)以使所述碱性溶液穿透过所述光学滤波层(23)的裂纹进入所述抗蚀层(5),并且使所述抗蚀层(5)膨胀,以及从基片(1)的表面(3)去除抗蚀层(5)。 |
地址 |
德国美因茨 |