发明名称 |
有色金属加工质量控制中的产品表面缺陷检测方法 |
摘要 |
一种有色金属加工质量控制系统中对产品表面缺陷进行检测的方法,采用常速模型对图像从上到下,从下到上,从左到右,从右到左,四个方向每行每列对应设置的一个卡尔曼滤波器设定初始像素值;利用步骤一中的初始像素值使用卡尔曼滤波器对图像进行四个方向的滤波,在对每行每列进行滤波的同时利用来自于每个滤波器在每个位置的测量残差μ(k)计算并保存该位置的ξ(k);将四个方向分别计算得到的相同位置的ξ(k)求和,将结果与由人工选取的域值进行二值化操作得到缺陷模版。本方法只需人工根据经验和检测效果确定两个参数,使用简单。本方法计算量与使用阈值的方法在同一数量级,能够应用于实时在线的情况。 |
申请公布号 |
CN101545868B |
申请公布日期 |
2011.06.08 |
申请号 |
CN200910050457.2 |
申请日期 |
2009.04.30 |
申请人 |
上海交通大学 |
发明人 |
翟鸣;罗新斌;傅山;敬忠良 |
分类号 |
G01N21/88(2006.01)I;G06T7/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/88(2006.01)I |
代理机构 |
上海交达专利事务所 31201 |
代理人 |
王锡麟;王桂忠 |
主权项 |
一种有色金属加工质量控制系统中对产品表面缺陷进行检测的方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一,采用常速模型对图像从上到下,从下到上,从左到右,从右到左,四个方向每行每列对应设置的一个卡尔曼滤波器设定初始像素值;步骤二,利用步骤一中的初始像素值使用卡尔曼滤波器对图像进行四个方向的滤波,在对每行每列进行滤波的同时利用来自于每个滤波器在每个位置的测量残差计算并保存该位置的ξ(k),ξ(k)=μT(k)S‑1(k)μ(k),其中:μ(k)为测量残差,S(k)为方差;步骤三,将四个方向分别计算得到的相同位置的ξ(k)求和,将结果与由人工选取的域值进行二值化操作得到缺陷模版。 |
地址 |
200240 上海市闵行区东川路800号 |