| 发明名称 |
Semiconductor testing apparatus and interface board |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP1729140(A3) |
申请公布日期 |
2011.06.08 |
| 申请号 |
EP20060090093 |
申请日期 |
2006.05.30 |
| 申请人 |
ADVANTEST CORPORATION |
发明人 |
TAKASU, HIROMITSU;MINEO, HIROYUKI |
| 分类号 |
G06F11/273;G01R31/28;G01R31/317;G01R31/319 |
主分类号 |
G06F11/273 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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