| 发明名称 | 一种用于露点测量的采样系统 | ||
| 摘要 | 一种用于露点测量的采样系统，包括冷却管，过滤器，两个压力采样室，流量控制器和采样泵，其特征在于，可以在带压环境或者常压环境下工作，采样压力范围为0至20bar大气压。该系统减少了采样系统的误差可能性，可以得到较为精确的测量结果。 | ||
| 申请公布号 | CN102087178A | 申请公布日期 | 2011.06.08 |
| 申请号 | CN200910200134.7 | 申请日期 | 2009.12.08 |
| 申请人 | 上海莫克电子技术有限公司 | 发明人 | 杨文举;王志兰 |
| 分类号 | G01N1/24(2006.01)I;G01N25/66(2006.01)I | 主分类号 | G01N1/24(2006.01)I |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | 一种用于露点测量的采样系统，其特征在于包括冷却管，过滤器，两个压力采样室，流量控制器和采样泵。 | ||
| 地址 | 201203 上海市浦东新区张江高科技园区蔡伦路333号2号楼403室 | ||