发明名称 |
NLDMOS器件及其制造方法 |
摘要 |
一种NLDMOS器件,包括浮置-P型结构,第一场氧区,第二场氧区,N型漂移区,第一场氧区和第二场氧区位于N型漂移区之上相对设置,所述浮置-P型结构位于N型漂移区的中部,所述的第一场氧区和第二场氧区不是连在一起,两者之间的有源区的宽度配合注入浮置-P型结构的长度。采用本发明的结构,不但可以提高半导体器件的击穿电压,而且有效地降低了导通电阻,同时减小了对高能注入的需求,降低了对工艺机台的限制,生产中容易实现。 |
申请公布号 |
CN102088031A |
申请公布日期 |
2011.06.08 |
申请号 |
CN200910188704.5 |
申请日期 |
2009.12.03 |
申请人 |
无锡华润上华半导体有限公司;无锡华润上华科技有限公司 |
发明人 |
吴孝嘉;罗泽煌;韩广涛 |
分类号 |
H01L29/78(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/78(2006.01)I |
代理机构 |
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 |
代理人 |
何平 |
主权项 |
一种NLDMOS器件,包括浮置‑P型结构,第一场氧区,第二场氧区,N型漂移区,第一场氧区和第二场氧区位于N型漂移区之上相对设置,其特征在于:所述浮置‑P型结构位于N型漂移区的中部沿着N型漂移区的沟道方向,所述的第一场氧区和第二场氧区之间的有源区的宽度不小于浮置‑P型结构的长度,浮置‑P型在N型漂移区的中部。 |
地址 |
214000 江苏省无锡市国家高新技术产业开发区汉江路5号 |