发明名称 存储设备旋转振动测试系统及方法
摘要 一种存储设备旋转振动测试系统,所述存储设备包括至少一个存储器以及风扇,该系统包括:设置模块,用于设置待测的存储器、待测的风扇转速、待测的工作负载以及测试时间;选择模块,用于从待测的存储器中逐一选择存储器;风扇控制模块,用于从待测的风扇转速中逐一选择风扇转速,并且控制风扇以该选择的转速运转;负载控制模块,用于从待测的工作负载中逐一选择工作负载,并且对存储设备产生该选择的工作负载;测试模块,用于根据设置的测试时间测试选择的存储器的读写性能;及存储模块,用于存储选择的存储器的读写性能的测试数据。本发明还提供一种存储设备旋转振动测试方法。本发明能够快速有效地对存储设备实施旋转振动测试。
申请公布号 CN102087855A 申请公布日期 2011.06.08
申请号 CN200910311036.0 申请日期 2009.12.08
申请人 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 发明人 林圣涵
分类号 G11B5/455(2006.01)I;G11B20/18(2006.01)I 主分类号 G11B5/455(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种存储设备旋转振动测试系统,运行于主机中,所述存储设备包括至少一个存储器以及至少一个风扇,其特征在于,该系统包括:设置模块,用于设置存储设备的测试参数,所述测试参数包括待测的存储器、待测的风扇转速、待测的工作负载以及测试时间;选择模块,用于从待测的存储器中逐一选择存储器;风扇控制模块,用于从待测的风扇转速中逐一选择风扇转速,并且控制风扇以该选择的转速运转;负载控制模块,用于从待测的工作负载中逐一选择工作负载,并且对存储设备产生该选择的工作负载;测试模块,用于根据设置的测试时间,在选择的风扇转速以及工作负载下测试选择的存储器的读写性能;及存储模块,用于存储选择的存储器的读写性能的测试数据。
地址 518109 广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号