| 发明名称 | 用于检验物体的方法和装置 | ||
| 摘要 | 用于检验物体的方法和装置;一种用于检验物体(12)的方法(38)包括：从液晶显示(LCD)装置和硅基液晶(LCOS)装置的至少一个中发射(40)光；相移(42)从LCD装置和LCOS装置的至少一个中发射的光；将相移的光投影(44)到物体的表面上；利用成像传感器(24)接收(46)从物体表面反射的光；以及分析(50)由成像传感器接收到的光以便于检验该物体的至少一部分。 | ||
| 申请公布号 | CN1955719B | 申请公布日期 | 2011.06.08 |
| 申请号 | CN200610163907.5 | 申请日期 | 2006.10.24 |
| 申请人 | 通用电气公司 | 发明人 | 胡庆英;D·W·哈米尔顿;K·G·哈丁;J·B·洛斯 |
| 分类号 | G01N21/00(2006.01)I;G01N21/95(2006.01)I;G01N21/41(2006.01)I;G01B11/00(2006.01)I;G01B11/02(2006.01)I;G01B11/24(2006.01)I;G01M15/00(2006.01)I;G01M15/02(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 李亚非;梁永 |
| 主权项 | 一种用于检验物体(12)的方法(38)，所述方法包括：将计算机可操作地连接到液晶显示LCD装置、硅基液晶LCOS装置以及至少一个成像传感器的至少一个；从所述液晶显示LCD装置和所述硅基液晶LCOS装置的至少一个中以正弦干涉图的形式发射(40)光；使用计算机控制所述干涉图；相移(42)从所述LCD装置和所述LCOS装置的至少一个中发射的光；将所述经相移的光投影(44)到所述物体的表面上；利用所述成像传感器(24)接收(46)从所述物体的表面单次反射与多次反射的光；确定所述物体的相位图；以及分析(50)由所述成像传感器接收到的光以便识别所述单次反射、所述多次反射与所述物体的特征。 | ||
| 地址 | 美国纽约州 | ||