| 摘要 |
1. Способ автоматической идентификации углов и зондов чипа микроматрицы в сканированном изображении микроматрицы высокой плотности и высокого разрешения, имеющем пространство изображения, содержащий этапы, на которых ! (a) применяют преобразование Радона к входному изображению микроматрицы для проецирования изображения в пространство углов и расстояний, когда это возможно, для нахождения ориентации прямых линий, ! (b) применяют быстрое преобразование Фурье к спроецированному изображению, полученному на этапе (a), и применяют эвристику для нахождения оптимального угла наклона спроецированного изображения, ! (c) применяют эвристику для определения оптимальных первого и последнего локальных максимумов для оптимального угла наклона, ! (d) выполняют обратную проекцию определенных первого и последнего локальных максимумов в пространство изображения для нахождения в первом приближении первой и последней вертикальных линий изображения, ! (e) поворачивают изображение и повторяют этапы (a)-(d) для нахождения в первом приближении верхней и нижней горизонтальных линий изображения, ! (f) определяют, в первом приближении, четыре угла изображения из пересечения вертикальных и горизонтальных линий, ! (g) применяют эвристику для определения того, достаточно ли первого приближения, полученного на этапе (f), и, ! (h) опционально обрезают сканированное изображение вокруг первого приближения четырех углов и повторяют этапы (a)-(f). ! 2. Способ по п.1, в котором сканированное изображение микроматрицы представляет собой изображение, полученное посредством элемента, выбранного из группы, состоящей из репрезентативного анализа олигону� |
