| 主权项 |
一种具内嵌式记忆体测试指令机制之无线射频标签，其包含：一记忆体模块，可发出记忆体状态讯号；一数位模块，可判断记忆体状态数位讯号并产生一判断讯号，该数位模块包括一判断电路(Judge circuit)以判断记忆体状态数位讯号是否落在记忆体状态良好之区间范围内；一类比模块，负责接收记忆体测试指令及指令讯号调解，可将非数位形式之记忆体状态讯号转换为数位形式传送至数位模块，并能接收判断讯号传送给读取器。如申请专利权范围第1项所述之具内嵌式记忆体测试指令机制之无线射频标签，该标签系为具有电池供应电源，可多次读写之主动式/半主动式或不具有电池供应电源，可多次读写之被动式标签。如申请专利权范围第1项所述之具内嵌式记忆体测试指令机制之无线射频标签，该类比模块接收之记忆体测试指令系由读取器发出者。如申请专利权范围第1项所述之具内嵌式记忆体测试指令机制之无线射频标签，该记忆体模块发出之记忆体状态讯号包括电流源形式及电压源形式。如申请专利权范围第1项所述之具内嵌式记忆体测试指令机制之无线射频标签，该类比模块包括一能隙电路(Band gap circuit)，以将电流源形式之记忆体状态讯号转换成电压源形式。如申请专利权范围第1项所述之具内嵌式记忆体测试指令机制之无线射频标签，该类比模块包括一类比/数位转换器(A/D converter)，以将电压源形式之记忆体状态讯号转换成数位讯号。如申请专利权范围第1项所述之具内嵌式记忆体测试指令机制之无线射频标签，其系于类比模组内设有一反散射电路(Backscatter circuit)，以负责将判断之记忆体状态数位讯号以反散射(Backscatter)方式传送给读取器。一种具内嵌式记忆体测试指令机制之无线射频标签之测试方法，其包含下列步骤：(a)备置一由类比模块、数位模块及记忆体模块构成之无线射频标签；(b)标签接收记忆体自我测试指令；(c)由类比模块负责指令讯号调解后，由记忆体模块发出记忆体状态讯号；(d)由类比模块将电压源形式之记忆体状态讯号转换成数位讯号；(e)由数位模块判断记忆体状态数位讯号是否落在记忆体状态良好之区间范围内，该数位模块包括一判断电路(Judge circuit)以判断记忆体状态数位讯号是否落在记忆体状态良好之区间范围内；以及(f)标签将判断之记忆体状态数位讯号传送给读取器。如申请专利权范围第8项所述之具内嵌式记忆体测试指令机制之无线射频标签之测试方法，其步骤(a)所备置之标签系为具有电池供应电源，可多次读写之主动式/半主动式或不具有电池供应电源，可多次读写之被动式标签。如申请专利权范围第8项所述之具内嵌式记忆体测试指令机制之无线射频标签之测试方法，其步骤(b)中，该标签接收之记忆体自我测试指令系由读取器发出者。如申请专利权范围第8项所述之具内嵌式记忆体测试指令机制之无线射频标签之测试方法，其步骤(c)中，该记忆体模块发出之记忆体状态讯号包括电流源形式及电压源形式。如申请专利权范围第8项所述之具内嵌式记忆体测试指令机制之无线射频标签之测试方法，其步骤(d)中，该类比模块包括一能隙电路(Band gap circuit)，以将电流源形式之记忆体状态讯号转换成电压源形式。如申请专利权范围第8项所述之具内嵌式记忆体测试指令机制之无线射频标签之测试方法，其步骤(d)中，该类比模块包括一类比/数位转换器(A/D converter)，以将电压源形式之记忆体状态讯号转换成数位讯号。如申请专利权范围第8项所述之具内嵌式记忆体测试指令机制之无线射频标签之测试方法，其系于类比模组内设有一反散射电路(Backscatter circuit)，以负责将判断之记忆体状态数位讯号以反散射(Backscatter)方式传送给读取器。 |
