发明名称 氧化物烧结体及其制造方法暨溅镀靶材及透明导电膜
摘要
申请公布号 TWI334857 申请公布日期 2010.12.21
申请号 TW095135713 申请日期 2006.09.27
申请人 三井金属鑛业股份有限公司 发明人 森中泰三;尾野直纪
分类号 C04B35/457 主分类号 C04B35/457
代理机构 代理人 洪武雄 台北市中正区博爱路35号9楼;陈昭诚 台北市中正区博爱路35号9楼
主权项 一种氧化物烧结体,系包含氧化铟以及相对于原料粉的总重量含量为5至15wt%的氧化锡,并且包含氧化矽2至8wt%者,其特征为:相对密度为102%以上。如申请专利范围第1项之氧化物烧结体,其中,该烧结体内的菲烈直径(Feret's Diameter)2μm以上之针孔数目系每单位面积为50个/mm2以下。如申请专利范围第1项之氧化物烧结体,其中,以显微镜观察该烧结体的任意剖面时之析出相的比例,就面积比而言为40%以上。如申请专利范围第2项之氧化物烧结体,其中,以显微镜观察该烧结体的任意剖面时之析出相的比例,就面积比而言为40%以上。一种氧化物烧结体之制造方法,系包含氧化铟以及相对于原料粉的总重量含量为5至15wt%的氧化锡,并且包含氧化矽2至8wt%之氧化物烧结体之制造方法,其特征为:使氧化矽原料粉的平均粒径形成为0.2μm至0.6μm,并与氧化矽以外的原料粉混合后,以烧制温度1400℃以上进行烧结。如申请专利范围第5项之氧化物烧结体之制造方法,其中,所获得之氧化物烧结体的相对密度为102%以上。一种溅镀靶材,其特征为:将申请专利范围第1项至第4项中任一项之氧化物烧结体接合于背板。如申请专利范围第7项之溅镀靶材,其中,于玻璃基板上以溅镀而形成膜厚为200nm之透明导电膜的表面平滑性之最大高低差Ry为6.0nm以下。一种透明导电膜,系采用申请专利范围第7项之溅镀靶材并藉由溅镀所形成者,其特征为:于玻璃基板上以溅镀而形成膜厚为200nm之透明导电膜的表面平滑性之最大高低差Ry为6.0nm以下。
地址 日本