| 主权项 |
一种记忆体IC检测分类机(五)，其系包含有：供料匣：系设于机台上，用以承置待测之记忆体IC；收料匣：系设于机台上，用以承置完测之记忆体IC；测试装置：系设于机台上，并设有复数个测试套座，用以测试记忆体IC；载送装置：系设于机台上，用以于供料匣及测试装置间载送复数个记忆体IC；转送装置：系设于机台上，并设有载台用以于载送装置及收料匣间载送复数个完测之记忆体IC；第一移料装置：系设于机台上，并设有第一取放器用以一次移载复数个待测之记忆体IC于供料匣及载送装置间；第二移料装置：系设于机台上，并设有第二取放器用以一次移载复数个完测之记忆体IC于载送装置及转送装置间；中央处理器：系用以控制及整合各装置作动，以执行自动化作业。依申请专利范围第1项所述之记忆体IC检测分类机(五)，其中，该收料匣系细分有良品收料匣及不良品收料匣，用以承置完测之不同等级记忆体IC。依申请专利范围第2项所述之记忆体IC检测分类机(五)，其中，第二移料装置系可移载复数个完测之记忆体IC于转送装置及收料匣。依申请专利范围第2项所述之记忆体IC检测分类机(五)，其中，该不良品收料匣系为搬移式收料匣，该搬移式收料匣系设有可作Y方向位移之移载器，以及可收置复数个不同等级料盘且可作Z方向位移之收纳容器。依申请专利范围第2项所述之记忆体IC检测分类机(五)，其中，该转送装置系可于不良品收料匣与载送装置间移载不良品之记忆体IC。依申请专利范围第2项所述之记忆体IC检测分类机(五)，其中，更包含设有第三移料装置，其具有第三取放器用以移载转送装置上不良品之记忆体IC至不良品收料匣。依申请专利范围第1项所述之记忆体IC检测分类机(五)，其中，该测试装置之测试套座系装设于测试电路板上，该测试电路板连结至测试机。依申请专利范围第1项所述之记忆体IC检测分类机(五)，其中，该测试装置系设有具取放器之压接机构，用以取、放待/完测之记忆体IC于各测试套座，并下压待测之记忆体IC与测试套座之接点相接触。依申请专利范围第1项所述之记忆体IC检测分类机(五)，其中，该载送装置系以循环交替的机构载送复数个待测之记忆体IC。依申请专利范围第9项所述之记忆体IC检测分类机(五)，其中，该载送装置之循环交替机构系于机台上之置料端及测试装置处分别设有第一升降机构及第二升降机构，并设有位于不同高度之第一、二平移机构。依申请专利范围第10项所述之记忆体IC检测分类机(五)，其中，该载送装置之第一、二平移机构系分别具有可移动于置料端及测试装置间之第一、二滑移器，用以载送放置有待测记忆体IC之第一、二料盘，而第一、二升降机构则分别可升降带动承置有待测记忆体IC之第一、二料盘位移于第一、二平移机构间。依申请专利范围第11项所述之记忆体IC检测分类机(五)，其中，该第一、二滑移器系可分别载送第一、二料盘作不同方向之错位移动以供取料，而第一、二料盘则可预热承置待测之记忆体IC。依申请专利范围第1项所述之记忆体IC检测分类机(五)，更包含设有空匣，用以收置空料盘。一种记忆体IC检测分类机(五)，其系包含有：供料匣：系设于机台上，用以承置待测之记忆体IC；收料匣：系设于机台上，用以承置完测之记忆体IC；测试装置：系设于机台上，并设有复数个测试套座，用以测试记忆体IC；第一载送装置：系设于机台上，用以于供料匣及测试装置间载送复数个待测之记忆体IC；第二载送装置：系设于机台上，用以载送测试装置完测之记忆体IC；转送装置：系设于机台上，并设有载台用以于第二载送装置及收料匣间载送复数个完测之记忆体IC；第一移料装置：系设于机台上，并设有第一取放器用以一次移载复数个待测之记忆体IC于供料匣及第一载送装置间；第二移料装置：系设于机台上，并设有第二取放器用以一次移载复数个完测之记忆体IC于第二载送装置及转送装置间；中央处理器：系用以控制及整合各装置作动，以执行自动化作业。依申请专利范围第14项所述之记忆体IC检测分类机(五)，其中，该收料匣系细分有良品收料匣及不良品收料匣，用以承置完测之不同等级记忆体IC。依申请专利范围第15项所述之记忆体IC检测分类机(五)，其中，第二移料装置系可移载复数个完测之记忆体IC于转送装置及收料匣。依申请专利范围第15项所述之记忆体IC检测分类机(五)，其中，该不良品收料匣系为搬移式收料匣，该搬移式收料匣系设有可作Y方向位移之移载器，以及可收置复数个不同等级料盘且可作Z方向位移之收纳容器。依申请专利范围第15项所述之记忆体IC检测分类机(五)，其中，该转送装置系可于第二载送装置及不良品收料匣间载送不良品之记忆体IC。依申请专利范围第15项所述之记忆体IC检测分类机(五)，其中，更包含设有第三移料装置，其具有第三取放器用以移载转送装置上不良品之记忆体IC至不良品收料匣。依申请专利范围第14项所述之记忆体IC检测分类机(五)，其中，该测试装置之测试套座系装设于测试电路板上，该测试电路板连结至测试机。依申请专利范围第14项所述之记忆体IC检测分类机(五)，其中，该测试装置系设有具取放器之压接机构，用以取、放待/完测之记忆体IC于各测试套座，并下压待测之记忆体IC与测试套座之接点相接触。依申请专利范围第14项所述之记忆体IC检测分类机(五)，其中，该第一载送装置系以循环交替的机构载送复数个待测之记忆体IC。依申请专利范围第22项所述之记忆体IC检测分类机(五)，其中，该第一载送装置之循环交替机构系于机台上之置料端及测试装置处分别设有第一升降机构及第二升降机构，并设有位于不同高度之第一、二平移机构。依申请专利范围第23项所述之记忆体IC检测分类机(五)，其中，该第一载送装置之第一、二平移机构系分别具有可移动于置料端及测试装置间之第一、二滑移器，用以载送放置有待测记忆体IC之第一、二料盘，而第一、二升降机构则分别可升降带动承置有待测记忆体IC之第一、二料盘位移于第一、二平移机构间。依申请专利范围第24项所述之记忆体IC检测分类机(五)，其中，该第一、二滑移器系可分别载送第一、二料盘作不同方向之错位移动以供取料，而第一、二料盘则可预热承置待测之记忆体IC。依申请专利范围第14项所述之记忆体IC检测分类机(五)，更包含设有空匣，用以收置空料盘。 |
