| 主权项 |
一种记忆体IC检测分类机，其系包含有：供料匣：系设于机台上，用以承置待测之记忆体IC；收料匣：系设于机台上，用以承置完测之记忆体IC；测试装置：系设于机台上，其并设有复数个测试套座，测试套座为常闭型测试套座，测试套座包含有底座、上座及导引座，底座上设有数个插置孔，并于插置孔内设有可开合之金属夹片，上座则以弹簧及滑片架设于底座之上方，于下压时可令底座之金属夹片外张，以压夹IC之接脚，导引座系设于底座及上座之框架内，以导引定位IC；移料装置：系设于机台上，其并设有顶压治具及复数个取放头，用以一次移载复数个待/完测之记忆体IC于供料匣、测试装置及收料匣间；中央处理器：系用以控制及整合各装置作动，以执行自动化作业。依申请专利范围第1项所述之记忆体IC检测分类机，其中，该收料匣系细分不同等级之收料匣，用以承置完测之不同等级记忆体IC。依申请专利范围第1项所述之记忆体IC检测分类机，其中，该测试装置之测试套座系装设于测试电路板上，该测试电路板连结至测试机。依申请专利范围第1项所述之记忆体IC检测分类机，更包含于该机台上设有定位装置，以供自供料匣移载之待测记忆体IC定位。依申请专利范围第4项所述之记忆体IC检测分类机，其中，该定位装置开设有数个定位槽，以供定位记忆体IC。依申请专利范围第1项所述之记忆体IC检测分类机，其中，该移料装置系可于机台上作X-Y-Z三轴向之移动。依申请专利范围第1项所述之记忆体IC检测分类机，其中，该移料装置系于机架滑轨上架设滑座，再于滑座上架设复数个直立导架，各直立导架上端连结一第一压缸，下端则装设有顶压治具，而以第一压缸驱动顶压治具升降位移。依申请专利范围第1项所述之记忆体IC检测分类机，其中，该移料装置系于顶压治具之上方板架上，以第二压缸连结取放头，而以第二压缸驱动取放头于顶压治具内升降位移。 |
