发明名称 |
积体电路烧录测试装置 |
摘要 |
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申请公布号 |
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申请公布日期 |
2011.04.21 |
申请号 |
TW099220068 |
申请日期 |
2010.10.18 |
申请人 |
饶建奇;钱威 新北市土城区青云路380巷1号德霖技术学院电子工程系;简世超 新北市中和区民享街116巷25弄8号5楼 |
发明人 |
饶建奇;钱威;简世超 |
分类号 |
H01L21/00 |
主分类号 |
H01L21/00 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种积体电路烧录测试装置,其包含:一待测积体电路;一测试单元,以测试该待测积体电路;以及一控制单元,其与测试单元耦接,以控制该测试单元;其中当烧录该待测积体电路时,该测试单元会先发送触发信号至该控制单元,接着该控制单元发送烧录规则至该待测积体电路,以完成烧录动作,之后该控制单元发送结束讯号至该测试单元,最后该测试单元读取测试该待测积体电路是否合格。如申请专利范围第1项所述之积体电路烧录测试装置,其中该测试单元具有一讯号收发装置,以发送该触发信号及接收该结束讯号。如申请专利范围第1项所述之积体电路烧录测试装置,其中该测试单元具有一资料读取装置,以读取该待测积体电路的内容。如申请专利范围第1项所述之积体电路烧录测试装置,其中该控制单元具有一讯号收发装置,以发送该结束讯号及接收该触发讯号。如申请专利范围第1项所述之积体电路烧录测试装置,其中该控制单元具有一讯号发送装置,以发送该烧录规则。如申请专利范围第1项所述之积体电路烧录测试装置,其中该控制单元系为一微控制器。如申请专利范围第1项所述之积体电路烧录测试装置,其中该控制单元具有一记忆体,以储存该烧录规则。 |
地址 |
新北市永和区中正路529号10楼之3;新北市土城区青云路380巷1号德霖技术学院电子工程系;新北市中和区民享街116巷25弄8号5楼 |