发明名称 可调整角度之治具结构
摘要
申请公布号 TWM412362 申请公布日期 2011.09.21
申请号 TW100208396 申请日期 2011.05.11
申请人 順探實業股份有限公司 新北市樹林區鎮前街269巷12號 发明人 林鸿霖 新北市树林区镇前街269巷12号
分类号 G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项 一种可调整角度之治具结构,主要包括:一电路板,该电路板中间排列有四片相同规格的基板,其下设有待测点,于四周设有定位孔;一上治具,该上治具中穿设复数探针,于上侧开设活动孔;一活动板,该活动板置设于上治具中,其上设有固定柱以穿设于活动孔中活动;一下治具,该下治具中间置设探针与上治具之探针相结合传导讯号,并以导线连接到电脑中进行测试,且于底部开设固定孔;一微调器,该微调器设有活动盘,其上设连接柱以插入下治具之固定孔中定位;一调整旋钮,该旋钮设有刻度置设于微调器顶部以调整单方向的距离;一X轴旋钮,该旋钮设有刻度置设于微调器底部以调整X轴方向距离;一Y轴旋钮,该旋钮设有刻度置设于微调器中间以调整Y轴方向距离;藉由先将上下治具切割成独立的四小块,并于其中三块下面分别置设微调器,再将电路板之定位孔套入固定柱中定位,并使其中一片基板之待测点对准没有置设微调器的一组上治具之探针上,而其它三片基板则会偏移上治具;当待测点偏移探针右侧时,可扭动调整旋钮使活动盘往右带动下治具移动,而下治具移动则会连动上治具使活动孔在固定柱中作微移动,从而使探针往右移动以接触到待测点进行测试;反之,可扭动调整旋钮使治具往左微调移动以测试电路板;当待测点与探针之水准线及垂直线都不对齐时,先扭动具有刻度之X轴旋钮使活动盘往Y轴方向作精确的移动并带动下治具及上治具移动,从而使上治具之探针往待测点方向垂直对齐;接着再调整具有刻度之Y轴旋钮使探针接触到待测点以进行测试,最后将测试到的讯号通过导线传输到电脑上;如此构造可使治具达到多方位、多角度准确的测试电路板,从而降低了制造成本达到实用之目的。
地址 新北市树林区镇前街269巷12号