电路测试探针卡及其探针基板结构

摘要

一种电路测试探针卡及其探针基板结构，可有效提供缩小电路探针测试卡测试点的间距。电路测试探针卡系利用一探针基板之上下表面分别与一电路板及复数个探针电性连接，其特征在于探针基板系包括：一基板主体，系具有复数个上接点于基板主体之一上表面；以及复数条导线，系贯穿设置于基板主体内且导线之两端系分别暴露于基板主体之上表面与一下表面，其中导线暴露于上表面之间距系大于导线暴露于下表面之间距；以及每一导线系分别与每一上接点电性连接。